ファイル種別: application/pdf キーワード: ABF-STEM
全ての絞り込みを解除

1 件のレコードが見つかりました。

031101_1_5.0178995.pdf
Local defect and mid-gap state analysis of GaN using monochromated EELS combined with nanodiffraction and atomic-resolution imaging
論文
著者
Shunsuke Yamashita ORCID ; Sei Fukushima ; Jun Kikkawa SAMURAI ORCID ; Ryoji Arai ; Yuya Kanitani ORCID ; Koji Kimoto SAMURAI ORCID ; Yoshihiro Kudo
キーワード
defect, GaN, EELS, 4D-STEM, HAADF-STEM, ABF-STEM, HAXPES
刊行年月日
2024-03-01
更新時刻
2024-03-19 16:56:29 +0900