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Characterization of wide-gap semiconductors by photothermal deflection spectroscopy
- ジャーナル論文
- 著者
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Masatomo Sumiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- III-V nitride semiconductor, photothermal deflection spectroscopy, defect
- 刊行年月日
- 2023-11-01
- 更新時刻
- 2024-12-10 16:56:31 +0900
Evaluation of defect density in bulk gallium nitrides by photothermal deflection spectroscopy and steady-state photocapacitance methods
- ジャーナル論文
- 著者
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Masatomo Sumiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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;Hajime Fujikura (author) (この著者で検索);Yoshitaka Nakano (author) (この著者で検索);Shuhei Yashiro (author) (この著者で検索)Yasuo Koide (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Tohru Honda (author) (この著者で検索)
- キーワード
- GaN bulk, defect level, photothermal deflection spectroscopy
- 刊行年月日
- 2024-04-06
- 更新時刻
- 2024-08-26 13:22:37 +0900