MDRについて
ヘルプ
お問い合わせ
Switch language
日本語
English
ログイン
ログイン
Search MDR
Home
論文・データセット
コレクション
MDR XAFS DB(1)
資源タイプ
データセット(1)
ジャーナル論文(1)
キーワード
Silicon nitride (2)
BL-10 (1)
Dielectric properties (1)
Nitride (1)
Ritsumeikan-SR (1)
SPS (1)
Si K-edge (1)
Si3N4 (1)
XAFS (1)
collection - MDR XAFS DB (1)
(more)
ライセンス
Creative Commons BY Attribution 4.0 International (1)
In Copyright (1)
ファイル種別
application/json (1)
application/octet-stream (1)
application/vnd.openxmlformats-officedocument.wordprocessingml.document (1)
image/png (1)
text/tab-separated-values (1)
試料の化学組成
窒化珪素 (1)
解析分野
分光法 (1)
計測法
X線吸収分光法 (1)
試料種別
窒化物 (1)
試料の構造的特徴
局所構造 (1)
キーワード: Silicon nitride
全ての絞り込みを解除
2 件のレコードが見つかりました。
Mechanical and Dielectric Properties of Si3N4-Based Ceramics
ジャーナル論文
著者
M.V. Zamula,
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
M.V. Zamula,
;
V.G. Kolesnichenko
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
V.G. Kolesnichenko
;
A.V. Stepanenko
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
A.V. Stepanenko
;
N.I. Tyschenko
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
N.I. Tyschenko
;
O.V. Shyrokov
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
O.V. Shyrokov
;
V.V. Khardikov
(author) (
この著者で検索
)
V.N. Karazin Kharkiv National University
V.V. Khardikov
;
D.M. Demirskyi
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
D.M. Demirskyi
;
O.O. Vasylkiv
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-5041-6130
National Institute for Materials Science Research Center for Electronic and Optical Materials/Optical Materials Field/Polycrystalline Optical Material Group
NIMS Researchers Directory SAMURAI
O.O. Vasylkiv
;
H.Y. Borodianska
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
H.Y. Borodianska
;
A.V. Ragulya
(author) (
この著者で検索
)
IPMS NASU
A.V. Ragulya
キーワード
Silicon nitride
,
mechanical properties
,
hardness
,
fracture toughness
,
Dielectric properties
,
SPS
刊行年月日
2025-04-01
更新時刻
2025-05-02 10:26:05 +0900
XAFS spectrum of Silicon nitride
データセット
コレクション
MDR XAFS DB
著者
Masashi Ishii
(editor) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-0357-2832
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Masashi Ishii
;
Ritsumeikan SR Center
(author) (
この著者で検索
)
Ritsumeikan University
Ritsumeikan SR Center
キーワード
Silicon nitride
,
Si3N4
,
Si K-edge
,
Nitride
,
BL-10
,
Ritsumeikan-SR
,
XAFS
,
collection - MDR XAFS DB
刊行年月日
更新時刻
2025-05-02 21:38:36 +0900
キーワード
Silicon nitride
(2)
BL-10
(1)
Dielectric properties
(1)
Nitride
(1)
Ritsumeikan-SR
(1)
SPS
(1)
Si K-edge
(1)
Si3N4
(1)
XAFS
(1)
collection - MDR XAFS DB
(1)
fracture toughness
(1)
hardness
(1)
mechanical properties
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
<
1
>