# 電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み

https://mdr.nims.go.jp/datasets/f1f46213-1681-4ce6-af03-026d8f07432c

## File

- [表面定量分析における標準化の歩み_v3.pdf](https://mdr.nims.go.jp/filesets/726c9be1-c8a2-45c1-8c4a-b5da6ebdb6de/download) ([Detail](https://mdr.nims.go.jp/filesets/726c9be1-c8a2-45c1-8c4a-b5da6ebdb6de.md))

## Id

f1f46213-1681-4ce6-af03-026d8f07432c

## Local identifier



## Visibility

open_to_public

## State

published

## Created at

2023-06-23T08:09:38.682283Z

## Updated at

2023-06-26T01:42:44.480312Z

## Published at

2023-06-26T11:16:01.323655Z

## Doi

https://doi.org/10.48505/nims.4195

## First published url



## Date published



## Recorded date published



## Resource type

conference_presentation

## Manuscript type

na

## Collection



## Title

- title: 電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
  title_type: original
  lang: ja

## Description

- description: AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO
    TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及性が議論された。その発展として，ISOを通しての「定量化の標準化」がなされてきた。この定量化と標準化（の一断面）を,
    XPSとAESにおける「感度係数法」の進展を通して考えてみたい。この２つのプロジェクトがなければ「表面定量」はあっても「表面定量の標準化」は無かったであろう。
  description_type: abstract
  lang: jpn

## Creator

- name: 田沼 繁夫
  role: author
  orcid: https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
  organization: National Institute for Materials Science
  department: 統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム
  ror: https://ror.org/026v1ze26

## Contact agent



## Publisher



## Managing organization



## Keyword

- subject: 表面定量分析
  schema: not_defined
- subject: 国際標準化
  schema: not_defined
- subject: ISO
  schema: not_defined
- subject: 標準化の歴史
  schema: not_defined
- subject: 標準化の意味
  schema: not_defined

## Rights

- identifier: https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/

## Other identifier(s)



## Data origin

- data_origin_type: other

## Embargo



## Journal



## Conference

name: 2023年JSCA国際標準化セミナー
start_date: 2023-02-10
end_date: 2023-02-10
identifier: https://www.jsca-jisc.org/%E3%82%A4%E3%83%99%E3%83%B3%E3%83%88/jsca%E5%9B%BD%E9%9A%9B%E6%A8%99%E6%BA%96%E5%8C%96%E3%82%BB%E3%83%9F%E3%83%8A%E3%83%BC

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## Funding



## Instrument



## Instrument operator



## Instrument managing organization



## Measurement method



## Specimen



## Chemical composition



## Structure for specimen



## Structural feature for specimen



## Specific property for specimen



## Process for specimen treatment



## Computational method



## Energy level/transition state



## Software



## Custom property



## Fileset

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  content_type: application/pdf
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## Thumbnail

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