XAFS spectrum of Silicon dioxide (amorphous)

Masashi Ishii; Ritsumeikan SR Center

データセット XAFS spectrum of Silicon dioxide (amorphous)

Masashi Ishii (National Institute for Materials Science) ; Ritsumeikan SR Center (Ritsumeikan University)

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コレクション

MDR XAFS DB

引用

Masashi Ishii, Ritsumeikan SR Center. XAFS spectrum of Silicon dioxide (amorphous). https://doi.org/10.48505/nims.3328

(BibTeX)

説明:

(abstract)

This dataset consists of X-ray absorption fine structure (XAFS) spectra at Si K-edge of Silicon dioxide (amorphous) measured at Ritsumeikan-SR BL-10, and is a part of XAFS database (MDR XAFS DB, https://doi.org/10.48505/nims.1447) as a collection of MDR

データの性質: experiment

権利情報:

Creative Commons BY Attribution 4.0 International
Creative Commons BY Attribution 4.0 International

キーワード: Silicon dioxide (amorphous), SiO2(amorphous), Si K-edge, Oxide, BL-10, Ritsumeikan-SR, XAFS, collection - MDR XAFS DB

刊行年月日:

出版者: Ritsumeikan University

掲載誌:

研究助成金:

原稿種別: 論文以外のデータ

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3328

公開URL: https://www.ritsumei.ac.jp/acd/re/src/sx_xafs_db/

関連資料:

その他の識別子:

連絡先: Ritsumeikan SR Center (Ritsumeikan University)

更新時刻: 2025-05-02 21:59:25 +0900

MDRでの公開時刻: 2022-06-10 22:40:08 +0900

Specimen / 試料

Name / 名称 : Silicon dioxide (amorphous)

Description / 試料の説明 : powder, on carbon tape

Material type / 試料種別 : 酸化物

Material type description / 試料種別の説明 : Oxide

Identifier / 識別子 :

Chemical composition / 試料の化学組成

Specimen ID / 試料ID :

Description / 化学組成の説明 :

Category / カテゴリ : 非晶質二酸化珪素

Category description / カテゴリの説明 :

Chemical composition ID / 組成ID : 112945-52-5

Structural feature for specimen / 試料の構造的特徴

Specimen ID / 試料ID :

Description / 構造的特徴の説明 : Geometrical and electronic local structure around the absorption element

Category / カテゴリ : 局所構造

Category description / カテゴリの説明 : local structure

Instrument / 装置

Name / 装置の名称 : BL-10_XAFS

Manufacturer / 装置製作者 : Ritsumeikan SR Center

Model number / 型番 :

Description / 装置の説明 : Ritsumeikan SR Center Soft X-ray XAFS Beamline setup

Function / 機能 :

Function description / 機能の説明 : x-ray absorption spectroscopy

Instrument ID / 装置ID :

Instrument operator / 装置操作者 :

Instrument managing organization / 装置管理組織 : Ritsumeikan SR Center, Ritsumeikan University

Measurement method / 計測法

Description / 説明 : TEY

Category / カテゴリ : X線吸収分光法

Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy

Analysis field / 解析分野 : 分光法

Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy

Measurement environment / 計測環境 :

Standarized procedure / 標準手順 :

Measured at / 計測時刻 : 2017-03-23T14:43:00+09:00

Description / 説明 : PFY

Category / カテゴリ : X線吸収分光法

Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy

Analysis field / 解析分野 : 分光法

Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy

Measurement environment / 計測環境 :

Standarized procedure / 標準手順 :

Measured at / 計測時刻 : 2017-03-23T14:43:00+09:00

Energy level/Transition state / エネルギー準位・遷移状態

Category / カテゴリ : Si K吸収端

Category description / カテゴリの説明 :

Description / エネルギー準位の説明 : Si K-edge

primary.tsv

key	value

ファイル名	サイズ
ファイル名	17032302.dat application/octet-stream	サイズ	30.6KB	詳細
ファイル名	17032302.pfy application/octet-stream	サイズ	5.35KB	詳細
ファイル名	17032302.tey application/octet-stream	サイズ	5.36KB	詳細
ファイル名	metadata.json application/json	サイズ	15.2KB	詳細
ファイル名	metadata.yml application/octet-stream	サイズ	7.92KB	詳細
ファイル名	primary.tsv text/tab-separated-values	サイズ	14.2KB	詳細
ファイル名	BL10_Si-K_004_pfy.png image/png	サイズ	19.3KB	詳細
ファイル名	BL10_Si-K_004_tey.png (サムネイル) image/png	サイズ	20.8KB	詳細