Article 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度

田沼 繁夫 SAMURAI ORCID (統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム, 物質・材料研究機構ROR)

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Citation
田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度. Journal of Surface analysis. 2023, 29 (2), 72-81. https://doi.org/10.48505/nims.3854
SAMURAI

Alternative title: How is the Signal Attenuation in Surface Electron Spectroscopy Described IV. unit system, mean free path, generalized oscillator strength

Description:

(abstract)

実用表面電子分光法において,電子の非弾性散乱は固体中における電子輸送に関連するので,その理解は大変に重要である。そこで,すでに出版した「表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?」I, II, IIIに続いて,実際的な電子の非弾性散乱の理解および計算に必要となる単位のとり方,その変換方法,非弾性散乱の平均の表現方法,さらには光学的振動子強度(双極子振動子強度)と一般化振動子強度の関係について解説した。

Rights:

Keyword: 表面電子分光, 平均自由行程, 一般化振動子強度, 光学的振動子強度, 双極子振動子強度, IMFP

Date published: 2023-07-14

Publisher:

Journal:

  • Journal of Surface analysis (ISSN: 13411756) vol. 29 issue. 2 p. 72-81

Funding:

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3854

First published URL: https://doi.org/10.1384/jsa.29.72

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Updated at: 2024-04-30 11:45:44 +0900

Published on MDR: 2023-02-03 11:36:50 +0900

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