論文 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度

田沼 繁夫 SAMURAI ORCID (統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム, 物質・材料研究機構ROR)

コレクション

引用
田沼 繁夫. 表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度. Journal of Surface analysis. 2023, 29 (2), 72-81. https://doi.org/10.1384/jsa.29.72
SAMURAI

代替タイトル: How is the Signal Attenuation in Surface Electron Spectroscopy Described IV. unit system, mean free path, generalized oscillator strength

説明:

(abstract)

実用表面電子分光法において,電子の非弾性散乱は固体中における電子輸送に関連するので,その理解は大変に重要である。そこで,すでに出版した「表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?」I, II, IIIに続いて,実際的な電子の非弾性散乱の理解および計算に必要となる単位のとり方,その変換方法,非弾性散乱の平均の表現方法,さらには光学的振動子強度(双極子振動子強度)と一般化振動子強度の関係について解説した。

権利情報:

キーワード: 表面電子分光, 平均自由行程, 一般化振動子強度, 光学的振動子強度, 双極子振動子強度, IMFP

刊行年月日: 2023-07-14

出版者:

掲載誌:

  • Journal of Surface analysis (ISSN: 13411756) vol. 29 issue. 2 p. 72-81

研究助成金:

原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3854

公開URL: https://doi.org/10.1384/jsa.29.72

関連資料:

その他の識別子:

連絡先:

更新時刻: 2024-04-30 11:45:44 +0900

MDRでの公開時刻: 2023-02-03 11:36:50 +0900

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サイズ 764KB 詳細