XAFS spectrum of Sodium selenate

Masashi Ishii; Akiko Hokura

データセット XAFS spectrum of Sodium selenate

Masashi Ishii (National Institute for Materials Science) ; Akiko Hokura (Tokyo Denki University)

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コレクション

MDR XAFS DB

引用

Masashi Ishii, Akiko Hokura. XAFS spectrum of Sodium selenate. https://doi.org/10.48505/nims.3678

(BibTeX)

代替タイトル: KEKPF-NW10A_12135

説明:

(abstract)

This dataset consists of X-ray absorption fine structure (XAFS) spectra at Se K-edge of Sodium selenate measured at Photon Factory AR-NW10A, and is a part of XAFS database (MDR XAFS DB, https://doi.org/10.48505/nims.1447) as a collection of MDR

データの性質: experiment

権利情報:

Creative Commons BY-NC-SA Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International

Creative Commons BY-NC-SA Attribution-NonCommercial-ShareAlike 4.0 International

キーワード: Sodium selenate, Na2SeO4, Se K-edge, Oxide_ate, Si(311), AR-NW10A, Photon Factory, XAFS, collection - MDR XAFS DB, Selenate

刊行年月日:

出版者: KEK

掲載誌:

研究助成金:

原稿種別: 論文以外のデータ

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3678

公開URL: https://pfxafs.kek.jp/xafsdata/list.php

関連資料:

その他の識別子:

連絡先: Photon Factory (KEK)

更新時刻: 2025-05-02 21:51:50 +0900

MDRでの公開時刻: 2022-07-11 11:48:58 +0900

Specimen / 試料

Name / 名称 : Sodium selenate

Description / 試料の説明 : Na2SeO4 (2%) + BN (98%)

Material type / 試料種別 : セレニウム酸塩

Material type description / 試料種別の説明 : Selenate

Identifier / 識別子 :

Chemical composition / 試料の化学組成

Specimen ID / 試料ID :

Description / 化学組成の説明 :

Category / カテゴリ : セレン酸ナトリウム

Category description / カテゴリの説明 :

Chemical composition ID / 組成ID :

Structural feature for specimen / 試料の構造的特徴

Specimen ID / 試料ID :

Description / 構造的特徴の説明 : Geometrical and electronic local structure around the absorption element

Category / カテゴリ : 局所構造

Category description / カテゴリの説明 : local structure

Instrument / 装置

Name / 装置の名称 : AR-NW10A_XAFS

Manufacturer / 装置製作者 : Photon Factory

Model number / 型番 :

Description / 装置の説明 : Photon Factory Hard X-ray Beamline XAFS setup

Function / 機能 :

Function description / 機能の説明 : x-ray absorption spectroscopy

Instrument ID / 装置ID :

Instrument operator / 装置操作者 :

Instrument managing organization / 装置管理組織 : Institute of Materials Structure Science, KEK

Measurement method / 計測法

Description / 説明 : Transmission

Category / カテゴリ : X線吸収分光法

Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy

Analysis field / 解析分野 : 分光法

Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy

Measurement environment / 計測環境 :

Standarized procedure / 標準手順 :

Measured at / 計測時刻 : 2018-06-23T18:56:00+09:00

Energy level/Transition state / エネルギー準位・遷移状態

Category / カテゴリ : Se K吸収端

Category description / カテゴリの説明 :

Description / エネルギー準位の説明 : Se K-edge

primary.tsv

key	value

ファイル名	サイズ
ファイル名	Se02_Se_Na2SeO4.dat application/octet-stream	サイズ	10.5KB	詳細
ファイル名	metadata.json application/json	サイズ	3.2KB	詳細
ファイル名	metadata.yml application/octet-stream	サイズ	1.78KB	詳細
ファイル名	primary.tsv text/tab-separated-values	サイズ	2.46KB	詳細
ファイル名	thumbnail.png (サムネイル) image/png	サイズ	8.71KB	詳細