# 4D STEM計測とタイコグラフィー

https://mdr.nims.go.jp/datasets/7d596b73-1d81-4ffd-a3f2-5fbeb005214b

## File

- [03_特集 最先端電子顕微鏡法（４DSTEMとタイコグラフィー　NIMS　三石和貴）20250317　著者最終稿.pdf](https://mdr.nims.go.jp/filesets/76361215-985f-4e1a-9d10-5ff829433abb/download) ([Detail](https://mdr.nims.go.jp/filesets/76361215-985f-4e1a-9d10-5ff829433abb.md))

## Id

7d596b73-1d81-4ffd-a3f2-5fbeb005214b

## Local identifier



## Visibility

open_to_public

## State

published

## Created at

2025-12-23T11:12:41.348121Z

## Updated at

2025-12-25T06:51:02.197251Z

## Published at

2025-12-25T23:19:20.552319Z

## Doi

https://doi.org/10.48505/nims.6074

## First published url

https://member.ceramic.or.jp/journal/vol_no/60/05/60_05.html

## Date published



## Recorded date published

2025年5月

## Resource type

journal_article

## Manuscript type

accepted_manuscript

## Collection



## Title

- title: 4D STEM計測とタイコグラフィー
  title_type: original
  lang: ja

## Description

- description: 高速ピクセル型検出器の実用化によって近年大きく発展している４DSTEM計測とタイコグラ フィーについて、最近の応用について紹介する
  description_type: abstract
  lang: jpn

## Creator

- name: 三石 和貴
  role: author
  orcid: https://orcid.org/0000-0002-9361-4057
  organization: 物質・材料研究機構
  department: マテリアル基盤研究センター
- name: 中澤 克昭
  role: author
  orcid: https://orcid.org/0000-0002-6056-5615
  organization: 物質・材料研究機構
  department: 若手国際研究センター

## Contact agent



## Publisher

organization: 公益社団法人　日本セラミックス協会

## Managing organization



## Keyword

- subject: 4DSTEM
  schema: not_defined
- subject: electron ptychography
  schema: not_defined
- subject: phase retrieval
  schema: not_defined

## Rights

- identifier: http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/

## Other identifier(s)



## Data origin

- data_origin_type: other

## Embargo



## Journal

- title: セラミックス
  issn: '0009031X'
  volume: '60'
  issue: '5'
  start_page: 346
  end_page: 349

## Conference



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## Funding

- identifier: 24K15598
  funder_name: JST

## Instrument



## Instrument operator



## Instrument managing organization



## Measurement method



## Specimen



## Chemical composition



## Structure for specimen



## Structural feature for specimen



## Specific property for specimen



## Process for specimen treatment



## Computational method



## Energy level/transition state



## Software



## Custom property



## Fileset

- id: 76361215-985f-4e1a-9d10-5ff829433abb
  filename: 03_特集 最先端電子顕微鏡法（４DSTEMとタイコグラフィー　NIMS　三石和貴）20250317　著者最終稿.pdf
  content_type: application/pdf
  size: 606991
  md5: 063e180d27814c227350e01041bdcf52

## Thumbnail

fileset_id: 76361215-985f-4e1a-9d10-5ff829433abb
filename: 03_特集 最先端電子顕微鏡法（４DSTEMとタイコグラフィー　NIMS　三石和貴）20250317　著者最終稿.pdf