Masashi Ishii
(National Institute for Materials Science)
;
SAGA-LS
(Kyushu Synchrotron Light Research Center
)
代替タイトル: C-K01
説明:
(abstract)This dataset consists of X-ray absorption fine structure (XAFS) spectra at C K-edge of HOPG, Highly oriented pyrolytic graphite measured at SAGA SR BL12, and is a part of XAFS database (MDR XAFS DB, https://doi.org/10.48505/nims.1447) as a collection of MDR
データの性質: experiment
権利情報:
キーワード: C, HOPG, Highly oriented pyrolytic graphite, C K-edge, Nonmetal, BL12, SAGA-LS, XAFS, collection - MDR XAFS DB, Pure nonmetal
刊行年月日:
出版者: Kyushu Synchrotron Light Research Center
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 論文以外のデータ
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.4171
公開URL: https://www.saga-ls.jp/main/2026.html#gsc.tab=0
関連資料:
その他の識別子:
連絡先: SAGA-LS (Kyushu Synchrotron Light Research Center)
更新時刻: 2025-05-02 21:48:56 +0900
MDRでの公開時刻: 2023-06-08 22:08:48 +0900
Name / 名称 : HOPG, Highly oriented pyrolytic graphite
Description / 試料の説明 :
Material type /
試料種別
:
純非金属
Material type description / 試料種別の説明 : Pure nonmetal
Identifier / 識別子 :
Specimen ID / 試料ID :
Description / 化学組成の説明 :
Category /
カテゴリ
:
高配向性熱分解グラファイト
Category description / カテゴリの説明 :
Chemical composition ID / 組成ID :
Specimen ID / 試料ID :
Description / 構造的特徴の説明 : Geometrical and electronic local structure around the absorption element
Category /
カテゴリ
:
局所構造
Category description / カテゴリの説明 : local structure
Name / 装置の名称 : BL12_XAFS
Manufacturer / 装置製作者 : SAGA-LS
Model number / 型番 :
Description / 装置の説明 : SAGA-LS Beamline XAFS setup
Function / 機能 :
Function description / 機能の説明 : x-ray absorption spectroscopy
Instrument ID / 装置ID :
Instrument operator / 装置操作者 :
Instrument managing organization / 装置管理組織 : SAGA-LS, Kyushu Synchrotron Light Research Center
Description / 説明 : total electron yield for 30 deg incidence
Category /
カテゴリ
:
X線吸収分光法
Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy
Analysis field /
解析分野
:
分光法
Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy
Measurement environment / 計測環境 :
Standarized procedure / 標準手順 :
Measured at / 計測時刻 :
Description / 説明 : total electron yield for 60 deg incidence
Category /
カテゴリ
:
X線吸収分光法
Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy
Analysis field /
解析分野
:
分光法
Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy
Measurement environment / 計測環境 :
Standarized procedure / 標準手順 :
Measured at / 計測時刻 :
Description / 説明 : total electron yield for 90 deg incidence (normal incidence)
Category /
カテゴリ
:
X線吸収分光法
Category description / カテゴリの説明 : x-ray absorption spectroscopy
Analysis field /
解析分野
:
分光法
Analysis field description / 解析分野の説明 : spectroscopy
Measurement environment / 計測環境 :
Standarized procedure / 標準手順 :
Measured at / 計測時刻 :
| key | value |
|---|
| ファイル名 | サイズ | |||
|---|---|---|---|---|
| ファイル名 |
metadata.yml
application/octet-stream |
サイズ | 1.82KB | 詳細 |
| ファイル名 |
metadata.json
application/json |
サイズ | 3.25KB | 詳細 |
| ファイル名 |
primary.tsv
text/tab-separated-values |
サイズ | 2.36KB | 詳細 |
| ファイル名 |
HOPG.Thumb.png
(サムネイル)
image/png |
サイズ | 77.1KB | 詳細 |
| ファイル名 |
HOPG_C-K.tey
application/octet-stream |
サイズ | 9.3KB | 詳細 |