論文 Enhanced X-ray structural analysis using total variation denoising of X-ray diffraction images

Kouhei Ichiyanagi ORCID ; Toshiyuki Sasaki ORCID ; Yuichi Yokoyama ; Yuichi Yamasaki SAMURAI ORCID

コレクション

引用
Kouhei Ichiyanagi, Toshiyuki Sasaki, Yuichi Yokoyama, Yuichi Yamasaki. Enhanced X-ray structural analysis using total variation denoising of X-ray diffraction images. Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances. 2026, 82 (1), . https://doi.org/10.1107/s2053273325009672

説明:

(abstract)

全変動(TV)正則化に基づくノイズ除去法をX線結晶学のX線回折画像に適用したところ、弱い回折スポットの信号対雑音比が大幅に向上した。その後、このノイズ除去画像を用いて標準試料であるシチジンの結晶構造データ処理を行った結果、構造解析の精度が改善された。この画像処理技術は、特に微小結晶のような困難な試料に対して、弱い回折データの品質を向上させ、より信頼性の高い結晶構造解析を可能にする実用的な手法である。

権利情報:

キーワード: X線構造解析, スパースモデリング

刊行年月日: 2026-01-01

出版者: International Union of Crystallography (IUCr)

掲載誌:

  • Acta Crystallographica Section A Foundations and Advances (ISSN: 20532733) vol. 82 issue. 1

研究助成金:

  • JPMJCR2435 (JST)

原稿種別: 出版者版 (Version of record)

MDR DOI:

公開URL: https://doi.org/10.1107/s2053273325009672

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連絡先:

更新時刻: 2025-12-09 16:30:57 +0900

MDRでの公開時刻: 2025-12-09 16:26:06 +0900

ファイル名 サイズ
ファイル名 journals.iucr.org_a_issues_2026_01_00_cam5010_cam5010.pdf (サムネイル)
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