田沼 繁夫
(分析支援ステーション, 物質・材料研究機構
)
代替タイトル: TWA2 表面分析化学 2005年度のプロジェクトの概要と進捗
説明:
(abstract)VAMAS TWA2 表面化学分析における標準化は表面電子分光の装置仕様・校正法など基礎についてのものが多く,ほとんどのものはこのVAMAS活動により(個々人が)開発した手法,理論,データベース等に有用性が確認された後,ISOに提案され国際規格となっている.また,産業界において使われることを前提とした標準化ばかりでなく,科学的基礎を持ち,かつ再現性のある表面計測法・定量法等を国際共同研究を核として系統だって開発している.
権利情報:
会議:
研究助成金:
原稿種別: 論文以外のデータ
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.4200
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更新時刻: 2023-06-29 11:01:15 +0900
MDRでの公開時刻: 2023-06-29 13:30:28 +0900
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06_分析展2006-1 .pdf
(サムネイル)
application/pdf |
サイズ | 1.07MB | 詳細 |