Development of UHV scanning probe microscope with external stress and strain application

論文 Development of UHV scanning probe microscope with external stress and strain application

FUJITA, Daisuke. Development of UHV scanning probe microscope with external stress and strain application. https://doi.org/10.34968/nims.1365

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キーワード: scanning probe microscopy

刊行年月日: [2007]

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原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.34968/nims.1365

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更新時刻: 2022-10-03 01:29:28 +0900

MDRでの公開時刻: 2021-08-14 03:55:17 +0900

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ファイル名	Poster presentation (サムネイル) application/pdf	サイズ	3.53MB	詳細