# 放射光でナノの世界を照らすオペランド分光イメージング

https://mdr.nims.go.jp/datasets/1cfcbb1d-ecc1-4460-91ee-69cbff08e81a

## File

- [20241223永村_著者最終稿.pdf](https://mdr.nims.go.jp/filesets/6820189a-0465-4b0b-a9f5-98ffe60dabff/download) ([Detail](https://mdr.nims.go.jp/filesets/6820189a-0465-4b0b-a9f5-98ffe60dabff.md))

## Id

1cfcbb1d-ecc1-4460-91ee-69cbff08e81a

## Local identifier



## Visibility

open_to_public

## State

published

## Created at

2024-12-08T19:54:56.629936Z

## Updated at

2025-01-16T07:31:49.637212Z

## Published at

2025-01-16T07:31:49.756329Z

## Doi

https://doi.org/10.48505/nims.5280

## First published url

https://www.jstc.org/frontier19/

## Date published

2023-07-31

## Recorded date published



## Resource type

journal_article

## Manuscript type

accepted_manuscript

## Collection



## Title

- title: 放射光でナノの世界を照らすオペランド分光イメージング
  title_type: original
  lang: ja
- title: Operando spectral imaging using synchrotron radiation X-rays illuminating
    the nano world
  title_type: alternative
  lang: en

## Description

- description: 光を物質に照射し、放出される光電子を検出する、という一次光学過程に基づいた分光分析手法が光電子分光法である。物性実験系の研究をしていると、一度は触れたことがある分析手法といっても過言ではない。しかし、化学反応を分析するツールとしては一般的なものとは言い難い。本稿では、放射光XPSの出口の一つとして、微細デバイス構造や機能性ナノ構造材料を動作環境下で(=オペランド)マッピング計測することが可能な走査型光電子顕微分光(SPEM)装置と、その具体的な分析事例について紹介する。
  description_type: abstract
  lang: jpn

## Creator

- name: 永村 直佳
  role: author
  orcid: https://orcid.org/0000-0002-7697-8983
  organization: 物質・材料研究機構
  department: マテリアル基盤研究センター/先端解析分野/光電子分光グループ

## Contact agent



## Publisher

organization: 理論化学会

## Managing organization



## Keyword

- subject: オペランド
  schema: not_defined
- subject: 放射光
  schema: not_defined
- subject: イメージング
  schema: not_defined
- subject: 半導体デバイス
  schema: not_defined
- subject: 全固体電池
  schema: not_defined

## Rights

- identifier: http://rightsstatements.org/vocab/InC/1.0/

## Other identifier(s)



## Data origin

- data_origin_type: other

## Embargo



## Journal

- title: フロンティア
  issn: '27584496'
  volume: '5'
  issue: '3'
  start_page: 196
  end_page: 201

## Conference



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## Funding

- identifier: JPMJPR17NB
  funder_name: JST
  description: さきがけ(マテインフォ)
- identifier: JPMJPR20T7
  funder_name: JST
  description: さきがけ(反応制御)
- identifier: '26107503'
  funder_name: JSPS
  description: 新学術領域研究(研究領域提案型)
- identifier: 15K17463
  funder_name: JSPS
  description: 若手研究(B)

## Instrument



## Instrument operator



## Instrument managing organization



## Measurement method



## Specimen



## Chemical composition



## Structure for specimen



## Structural feature for specimen



## Specific property for specimen



## Process for specimen treatment



## Computational method



## Energy level/transition state



## Software



## Custom property



## Fileset

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