論文 表面電子分光法における信号の減衰はいかに記述されるか? II. 誘電関数とIMFP

Tanuma, Shigeo SAMURAI ORCID (National Institute for Materials ScienceROR)

コレクション

引用
Tanuma, Shigeo. 表面電子分光法における信号の減衰はいかに記述されるか? II. 誘電関数とIMFP. https://doi.org/10.48505/nims.3704

代替タイトル: How to express the attenuation of signal electrons in surface electron spectroscopy. II Dielectric function and IMFP

説明:

(abstract)

表面電子分光法では電子および光と物質の相互作用は非常に重要であり,信号の減衰を理解するのに不可欠である。そこで,これらの相互作用を統一的に考えるために誘電関数,エネルギー損失関数を導入し,光・電子と物質の相互作用について解説する。また,発生した電子を検出する表面電子分光法ではその検出深さが重要なので,この物理量の基礎となる電子の非弾性平均自由行程IMFPと誘電関数との関係についても述べる。

権利情報:

キーワード: electron inelastic mean free paths, surface electron spectroscopy, dielectric function, energy loss function

刊行年月日: 2004-07-01

出版者: SASJ

掲載誌:

研究助成金:

原稿種別: 論文以外のデータ

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3704

公開URL: http://www.sasj.jp/JSA/CONTENTS/vol.11_2/Vol.11%20No.2/Vol.11%20No.2%20123-128.pdf

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更新時刻: 2023-01-31 19:26:10 +0900

MDRでの公開時刻: 2023-01-31 19:26:08 +0900

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