Article 表面電子分光法における信号の減衰はいかに記述されるか? II. 誘電関数とIMFP

Tanuma, Shigeo SAMURAI ORCID (National Institute for Materials ScienceROR)

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Citation
Tanuma, Shigeo. 表面電子分光法における信号の減衰はいかに記述されるか? II. 誘電関数とIMFP. https://doi.org/10.48505/nims.3704

Alternative title: How to express the attenuation of signal electrons in surface electron spectroscopy. II Dielectric function and IMFP

Description:

(abstract)

表面電子分光法では電子および光と物質の相互作用は非常に重要であり,信号の減衰を理解するのに不可欠である。そこで,これらの相互作用を統一的に考えるために誘電関数,エネルギー損失関数を導入し,光・電子と物質の相互作用について解説する。また,発生した電子を検出する表面電子分光法ではその検出深さが重要なので,この物理量の基礎となる電子の非弾性平均自由行程IMFPと誘電関数との関係についても述べる。

Rights:

Keyword: electron inelastic mean free paths, surface electron spectroscopy, dielectric function, energy loss function

Date published: 2004-07-01

Publisher: SASJ

Journal:

Funding:

Manuscript type: Not a journal article

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3704

First published URL: http://www.sasj.jp/JSA/CONTENTS/vol.11_2/Vol.11%20No.2/Vol.11%20No.2%20123-128.pdf

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Updated at: 2023-01-31 19:26:10 +0900

Published on MDR: 2023-01-31 19:26:08 +0900

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