Summary of ISO/TC 201 Standard: XX ISO 18118: 2004 — Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy —Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials

孔のあいた光ファイバ明暗二題―ホーリーファイバとファイバフューズ

Thermally Stable Mesoporous Poly(ether sulfone) Monoliths with Nanofiber Network Structures

ファイバヒューズにおける周期的空孔生成の起源

ファイバフューズの自然停止に伴う2重周期的空孔列の生成

ファイバヒューズにおける空孔を残さない過渡的な伝搬モード

研究業績リストの電子化―研究者のための執筆・発表支援システム

研究者の目をくらまし続けてきたファイバフューズ

周期的空孔生成のメカニズムを示すファイバヒューズ損傷写真のアニメーション

English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205(2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam

光ファイバーの自壊連鎖現象〜ファイバーフューズ〜

Automatic Extraction of Materials and Properties from Superconductors Scientific Literature

[Research Highlights Vol.56] How Do Neuromorphic Nanowire Networks Find Routes to Convey Signals?

[Research Highlights Vol.1] Atomic Nano-Switches Emulate Human Memory

[Research Highlights Vol.2] High-Performance Thin Film Boost for Electronics Research

[Research Highlights Vol.3] Bone tissue engineering: Attaching proteins for better regeneration

[Research Highlights Vol.4] On-Demand Synaptic Electronics: Circuits that learn and forget

[Research Highlights Vol.5] Detecting caesium with naked eyes

[Research Highlights Vol.6] Inorganic materials display massive and instantaneous swelling and shrinkage