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研究者の目をくらまし続けてきたファイバフューズ
研究業績リストの電子化―研究者のための執筆・発表支援システム
周期的空孔生成のメカニズムを示すファイバヒューズ損傷写真のアニメーション
ファイバヒューズにおける周期的空孔生成の起源
ファイバフューズ点火現象の直接観察
ファイバフューズの自然停止に伴う2重周期的空孔列の生成
光ファイバーの自壊連鎖現象〜ファイバーフューズ〜
ファイバヒューズにおける空孔を残さない過渡的な伝搬モード
孔のあいた光ファイバ明暗二題―ホーリーファイバとファイバフューズ
Automatic Threshold Prediction of Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) by Machine Le...
電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量 -Mg Kαに対するGeの質量吸収係数の検討- and Electron microprobe analysis of...
Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence ...
InP/GaInAsP多層膜におけるAES深さ分解能の温度依存性
Arイオンスパッタリングされた各種化合物半導体表面のSEM観察
Auger Depth Profiling Analysis of FeNi/CoFeB/FeNi Specimen Using an Ultra Low Angle In...
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Hol...
試料冷却法を併用したAES深さ方向分析によるSiO2/Si熱酸化膜の分析
InP/GaInAs多層膜のAES深さ方向分析のラウンドロビン試験報告（I）
材料データプラットフォームシステムDICEにおける研究データフローの構築―実践と課題
CASベースのRDM認証・認可機構の漸増開発とアセスメント評価