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Filtering by: Keyword ISO

Description/Abstract:: ISO 18118 provides guidance on the measurement and use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative ana...
Keyword:: AES, Auger electron spectroscopy, ISO, International Organization for Standardization, X-ray photoelectron spectroscopy, XPS, quantitative surface analysis, and relative sensitivity factor
Resource Type:: Article
Author:: TANUMA, Shigeo
Journal:: Surface and Interface Analysis
Date Uploaded:: 08/10/2020
Date Modified:: 01/07/2021

Description/Abstract:: AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が２つの大きな転換点といえる。前者では，個々人の定量研究から国際共同研究を通して，定量の信頼性や正確性・遡及...
Keyword:: ISO, 国際標準化, 標準化の意味, 標準化の歴史, and 表面定量分析
Resource Type:: Presentation
Author:: 田沼繁夫
Date Uploaded:: 26/06/2023

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