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Author
田沼 繁夫
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Publisher
National Institute for Materials Science
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1.
電子分光法における表面感度と検出深さ
Description/Abstract:
The four physical parameters describing inelastic scattering of electrons, which is a measure of surface sensitivity, were described. The...
Keyword:
inelastic mean free path
,
effective attenuation length
,
information depth
,
mean escape depth
, and
surface sensitivity
Resource Type:
Article
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
01/02/2023
Date Modified:
01/05/2024
2.
表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度
Description/Abstract:
実用表面電子分光法において,電子の非弾性散乱は固体中における電子輸送に関連するので,その理解は大変に重要である。そこで,すでに出版した「表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか?」I, II, IIIに続いて,実際的な電子の非弾性散乱の理解および計算に必要となる...
Keyword:
IMFP
,
一般化振動子強度
,
光学的振動子強度
,
双極子振動子強度
,
平均自由行程
, and
表面電子分光
Resource Type:
Article
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
03/02/2023
Date Modified:
30/04/2024
3.
“Word”で数式をきれいに記述するには
Description/Abstract:
Wordにおける数式入力において、論文誌指定のLaTeX形式のフォントに変更する方法、また記述をUniCode形式にすることでのメリットを紹介する。さらに数式の引用時に便利なMathpix snipソフトウェアの紹介と、その利用方法、Wordとの連携について紹介した。
Keyword:
LaTex
,
XITS Math
, and
word
Resource Type:
Article
Author:
原田 善之
and
田沼 繁夫
Date Uploaded:
03/02/2023
Date Modified:
29/03/2024
4.
電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
Description/Abstract:
AESやXPSに代表される表面電子分光法における定量化は, 1982年のVAMAS プロジェクト TWA-2 SCAの設立と1991年のISO TC201SCAの設立が2つの大きな転換点といえる。前者では,個々人の定量研究から国際共同研究を通して,定量の信頼性や正確性・遡及...
Keyword:
ISO
,
国際標準化
,
標準化の意味
,
標準化の歴史
, and
表面定量分析
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
26/06/2023
5.
10eV - 30 keVにおける固体中の電子阻止能の計算
Description/Abstract:
固体中における電子の阻止能(SP)は,非弾性散乱を記述する基本的なパラメータの一つであり,表面電子分光法において電子輸送をシミュレートする場合に不可欠な物理量である.また,放射線計量における基本的物理量でもある。SPの値は10keV以上ではいわゆる相対論的Betheの式が一...
Keyword:
Bethe equation
,
Electron Stopping Power
,
Influence of electron exchange
, and
full Penn algorithm
Resource Type:
Presentation
Author:
篠塚 寛志
,
田沼 繁夫
,
C.J. Powell
, and
D.R. Penn
Date Uploaded:
29/06/2023
6.
モノづくりを支える表面分析技術: 表面分析の現状とその課題
Description/Abstract:
「表面分析」は様々な捉え方が出来るが,ここでは実用的な「表面の化学分析」とする。産業界においては,表面分析は1980年代から現在にいたるまで材料評価の大きな部分を担っており,故障解析には不可欠のツールである。表面電子分光法を中心として,物作りを支える表面分析技術の現状とその...
Keyword:
標準化
,
表面定量
,
計測・分析
, and
電子輸送シュミレータ
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
29/06/2023
7.
表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? V. 誘電関数を用いた固体における電子の非弾性散乱断面積
Description/Abstract:
Born近似、一般化振動子強度、誘電関数をキーパラメータとして、電子の非弾性散乱断面積について解説する。ボルン近似により、原子における電子の非弾性散乱断面積は振動子強度分布を用いて表すことができる。一方、誘電応答理論では、固体試料の非弾性散乱断面積を極小角散乱領域(すなわち...
Keyword:
一般化振動子強度
,
動的散乱因子
,
双極子行列要素平方
,
誘電関数
, and
電子の非弾性散乱断面積
Resource Type:
Article
Author:
田沼 繁夫
Journal:
Journal of Surface analysis
Date Uploaded:
21/08/2023
Date Modified:
21/08/2023
8.
TWA2 表面分析化学 2005年度のプロジェクトの概要と進捗
Description/Abstract:
VAMAS TWA2 表面化学分析における標準化は表面電子分光の装置仕様・校正法など基礎についてのものが多く,ほとんどのものはこのVAMAS活動により(個々人が)開発した手法,理論,データベース等に有用性が確認された後,ISOに提案され国際規格となっている.また,産業界にお...
Keyword:
TWA2
,
VAMAS
, and
表面化学分析
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
Date Uploaded:
29/06/2023
9.
電子の非弾性平均自由行程の一般式:JTP 式の開発
Description/Abstract:
我々は適用できるエネルギー範囲が広く,幅広い材料に対して適用できる改良型IMFP予測式(Jablonski-Tanuma-Powell (JTP)式)を開発した。この式はTPP-2M式を改良したもので、50eVから200keVまでの電子ネルギー範囲における100物質に対する...
Keyword:
IMFP
,
JTP equation
,
Jablonski-Tanuma-Powell equation
, and
general formula for IMFP
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
,
A. Jablonski
, and
C. J. Powell
Date Uploaded:
10/07/2023
10.
Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for Surface Electron Spectroscopies
Description/Abstract:
While the IMFP is a basic material parameter, the EAL, MED, and ID depend not only on the IMFP but also on the instrumental configuration...
Keyword:
EAL
,
EPES
,
IMFP
,
elemental solids
,
inorganic compounds
, and
water
Resource Type:
Presentation
Author:
田沼 繁夫
,
後藤啓典
,
吉川 英樹
,
パウエル
,
Penn, D. R.
,
Da, B.
,
Ueda, R.
, and
Shinotsuka, H
Date Uploaded:
29/06/2023
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Type of work
Publication
10
Keyword
IMFP
3
一般化振動子強度
2
inelastic mean free path
1
Bethe equation
1
EAL
1
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Keywords
»
Language
Japanese
10
Publisher
National Institute for Materials Science
[remove]
10
Resource type
Presentation
6
Article
4
Visibility
open
10
Rights Statement Sim
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International
9
Author
田沼 繁夫
[remove]
10
A. Jablonski
1
C. J. Powell
1
C.J. Powell
1
D.R. Penn
1
more
Authors
»
Journal
Journal of Surface analysis
1