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Author
田沼 繁夫
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Language
Japanese
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Inelastic Mean Free Paths, Mean Escape Depths, and Effective Attenuation Lengths for S...
電子の非弾性平均自由行程の一般式:JTP 式の開発
TWA2 表面分析化学 2005年度のプロジェクトの概要と進捗
オージェ電子分光法における背面散乱補正 I.広い分析条件で使用可能な電子の背面散乱補正式の開発
表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? V. 誘電関数を用いた固体における電子の非弾性散乱断面積
モノづくりを支える表面分析技術: 表面分析の現状とその課題
10eV - 30 keVにおける固体中の電子阻止能の計算
電子分光法における表面定量分析の標準化の歩み
“Word”で数式をきれいに記述するには
表面電子分光法における信号の減衰は如何に記述されるか? IV. 単位系,平均自由行程, 一般化振動子強度
電子分光法における表面感度と検出深さ
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Type of work
Publication
11
Keyword
IMFP
3
一般化振動子強度
2
inelastic mean free path
1
AES
1
Auger electron spectroscopy
1
more
Keywords
»
Language
Japanese
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11
Publisher
National Institute for Materials Science
10
一般社団法人 表面分析研究会
1
Resource type
Presentation
6
Article
5
Visibility
open
11
Rights Statement Sim
Creative Commons BY-NC Attribution-NonCommercial 4.0 International
10
Author
田沼 繁夫
[remove]
11
A. Jablonski
1
C. J. Powell
1
C.J. Powell
1
D.R. Penn
1
more
Authors
»
Journal
JOURNAL OF SURFACE ANALYSIS
1
Journal of Surface analysis
1